產(chǎn)品展廳
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Qnity PI Kapton EN
- 品牌：Qnity
- 型號(hào)：卷
- 價(jià)格： ￥137/盒
- 發(fā)布日期： 2025-11-27
- 更新日期： 2025-12-19
產(chǎn)品詳請(qǐng)
| 品牌 | Qnity |
| 貨號(hào) | |
| 用途 | 航空航天 |
| 牌號(hào) | PI Kapton EN |
| 型號(hào) | Kapton EN |
| 品名 | PI |
| 包裝規(guī)格 | 卷 |
| 外形尺寸 | 薄膜 |
| 廠家 | Qnity(Dupont 杜邦) |
| 是否進(jìn)口 |
Kapton® EN,高模量聚酰亞胺薄膜
Kapton® EN是一種高性能聚酰亞胺薄膜,用于柔性印刷電路和高密度互連的介電基板。Kapton® EN因其 的尺寸穩(wěn)定性、平鋪、高模量以及熱膨脹系數(shù)與銅匹配,是極細(xì)間距電路的 介電膜。
Kapton® EN提供從5微米超薄到50微米厚度的廣泛厚度,為客戶提供了更多設(shè)計(jì)靈活性。
Kapton EN聚酰亞胺薄膜中得以保留Kapton®® HN和VN薄膜固有的優(yōu)異電性和化學(xué)刻蝕性。Kapton® EN薄膜吸濕率極低,且可激光燒蝕。
應(yīng)用包括:
柔性印刷電路
細(xì)音高電路
芯片級(jí)封裝
高密度互聯(lián)
電暈壽命
與所有有機(jī)材料一樣,Kapton® 會(huì)受到電暈放電的侵蝕,
持續(xù)暴露于電暈放電下最終會(huì)導(dǎo)致介電失效。
在中等強(qiáng)度的電暈暴露下,
采用 Kapton® 絕緣的器件可存活長(zhǎng)達(dá) 3000 小時(shí),
這足以保證短暫暴露于電暈不會(huì)
顯著影響基于 Kapton® 的、設(shè)計(jì)合理的絕緣系統(tǒng)的壽命。
電暈閾值電壓和強(qiáng)度是許多參數(shù)的函數(shù),
包括絕緣層厚度、空氣間隙厚度和器件形狀。
代表,了解 Kapton® 是否適用于可能存在電暈的特定應(yīng)用。
圖 22 顯示了 25 μm (1 mil) Kapton® HN
聚酰亞胺薄膜在 60 Hz 下的壽命與電壓(RMS)的關(guān)系。
當(dāng)接近電暈起始水平時(shí),Kapton® 壽命曲線趨于平緩,
表明其具有較長(zhǎng)的壽命。需要強(qiáng)調(diào)的是,Kapton®絕緣磁線、包覆層和槽絕緣材料具有 的
隔熱和防潮性能,在設(shè)計(jì)合理的系統(tǒng)中,可放心使用,無需擔(dān)心電暈放電。Kapton®可單獨(dú)使用,也可與其他絕緣材料組合使用。
杜邦™ KAPTON® 性能概述
抗輻射性
由于其優(yōu)異的抗輻射性,Kapton® 常用于
需要柔性絕緣材料的高輻射環(huán)境。在太空領(lǐng)域,Kapton® 可單獨(dú)使用,也可
與其他材料組合使用,用于
需要以最小重量實(shí)現(xiàn)抗輻射性能的應(yīng)用。美國(guó)政府
實(shí)驗(yàn)室對(duì)
Kapton® 的伽馬射線和中子輻射暴露測(cè)試數(shù)據(jù)匯總于表12和表13。
Kapton® 在核反應(yīng)堆和直線加速器中的適用性測(cè)試
除了輻射外,還包括暴露于有害的化學(xué)環(huán)境。例如,核電站安全殼區(qū)域冷卻劑喪失事故 (LOCA) 測(cè)試的認(rèn)證
會(huì)使系統(tǒng)暴露于
蒸汽和氫氧化鈉中,這兩種物質(zhì)都容易
降解 Kapton®。因此,當(dāng) Kapton® 用于需要符合 IEEE-323 和 -383 認(rèn)證的核電系統(tǒng)時(shí),
需要采用工程設(shè)計(jì)來保護(hù) Kapton® 免受
LOCA 噴霧的直接暴露。
表 14 中的數(shù)據(jù)證明了 Kapton® 在外太空高真空環(huán)境下具有優(yōu)異的抗紫外線性能。
然而,在地球大氣層中,如果 Kapton® 直接暴露于
紫外線、氧氣和水的某些組合,則會(huì)產(chǎn)生協(xié)同效應(yīng)。
圖 23 顯示了這種效應(yīng),即 Kapton® 在佛羅里達(dá)測(cè)試面板中暴露時(shí)伸長(zhǎng)率的降低。
圖 24 顯示了伸長(zhǎng)率降低與
Atlas 耐候試驗(yàn)箱中暴露時(shí)間的關(guān)系。
設(shè)計(jì)考慮應(yīng)考慮到這種現(xiàn)象。
Kapton® EN是一種高性能聚酰亞胺薄膜,用于柔性印刷電路和高密度互連的介電基板。Kapton® EN因其 的尺寸穩(wěn)定性、平鋪、高模量以及熱膨脹系數(shù)與銅匹配,是極細(xì)間距電路的 介電膜。
Kapton® EN提供從5微米超薄到50微米厚度的廣泛厚度,為客戶提供了更多設(shè)計(jì)靈活性。
Kapton EN聚酰亞胺薄膜中得以保留Kapton®® HN和VN薄膜固有的優(yōu)異電性和化學(xué)刻蝕性。Kapton® EN薄膜吸濕率極低,且可激光燒蝕。
應(yīng)用包括:
柔性印刷電路
細(xì)音高電路
芯片級(jí)封裝
高密度互聯(lián)
電暈壽命
與所有有機(jī)材料一樣,Kapton® 會(huì)受到電暈放電的侵蝕,
持續(xù)暴露于電暈放電下最終會(huì)導(dǎo)致介電失效。
在中等強(qiáng)度的電暈暴露下,
采用 Kapton® 絕緣的器件可存活長(zhǎng)達(dá) 3000 小時(shí),
這足以保證短暫暴露于電暈不會(huì)
顯著影響基于 Kapton® 的、設(shè)計(jì)合理的絕緣系統(tǒng)的壽命。
電暈閾值電壓和強(qiáng)度是許多參數(shù)的函數(shù),
包括絕緣層厚度、空氣間隙厚度和器件形狀。
代表,了解 Kapton® 是否適用于可能存在電暈的特定應(yīng)用。
圖 22 顯示了 25 μm (1 mil) Kapton® HN
聚酰亞胺薄膜在 60 Hz 下的壽命與電壓(RMS)的關(guān)系。
當(dāng)接近電暈起始水平時(shí),Kapton® 壽命曲線趨于平緩,
表明其具有較長(zhǎng)的壽命。需要強(qiáng)調(diào)的是,Kapton®絕緣磁線、包覆層和槽絕緣材料具有 的
隔熱和防潮性能,在設(shè)計(jì)合理的系統(tǒng)中,可放心使用,無需擔(dān)心電暈放電。Kapton®可單獨(dú)使用,也可與其他絕緣材料組合使用。
杜邦™ KAPTON® 性能概述
抗輻射性
由于其優(yōu)異的抗輻射性,Kapton® 常用于
需要柔性絕緣材料的高輻射環(huán)境。在太空領(lǐng)域,Kapton® 可單獨(dú)使用,也可
與其他材料組合使用,用于
需要以最小重量實(shí)現(xiàn)抗輻射性能的應(yīng)用。美國(guó)政府
實(shí)驗(yàn)室對(duì)
Kapton® 的伽馬射線和中子輻射暴露測(cè)試數(shù)據(jù)匯總于表12和表13。
Kapton® 在核反應(yīng)堆和直線加速器中的適用性測(cè)試
除了輻射外,還包括暴露于有害的化學(xué)環(huán)境。例如,核電站安全殼區(qū)域冷卻劑喪失事故 (LOCA) 測(cè)試的認(rèn)證
會(huì)使系統(tǒng)暴露于
蒸汽和氫氧化鈉中,這兩種物質(zhì)都容易
降解 Kapton®。因此,當(dāng) Kapton® 用于需要符合 IEEE-323 和 -383 認(rèn)證的核電系統(tǒng)時(shí),
需要采用工程設(shè)計(jì)來保護(hù) Kapton® 免受
LOCA 噴霧的直接暴露。
表 14 中的數(shù)據(jù)證明了 Kapton® 在外太空高真空環(huán)境下具有優(yōu)異的抗紫外線性能。
然而,在地球大氣層中,如果 Kapton® 直接暴露于
紫外線、氧氣和水的某些組合,則會(huì)產(chǎn)生協(xié)同效應(yīng)。
圖 23 顯示了這種效應(yīng),即 Kapton® 在佛羅里達(dá)測(cè)試面板中暴露時(shí)伸長(zhǎng)率的降低。
圖 24 顯示了伸長(zhǎng)率降低與
Atlas 耐候試驗(yàn)箱中暴露時(shí)間的關(guān)系。
設(shè)計(jì)考慮應(yīng)考慮到這種現(xiàn)象。
